可变截面扫描(VSS)中trajpar的应用

实体或曲面在做变截面扫描(Var Sec Swp )时,外型变化除了受到X-vector Trajectory的3D曲线控制之外也可用下列两种方式来控制:

1、使用relation结合trajpar参数来控制截面参数的变化。Trajpar是Pro/E的内参(轨迹参数),它是从0到1的一个变量(呈线性变化)代表扫出特征的长度百分比。在扫出的开始时,trajpar的值是0;结束时为1。使用举例:在草绘的Relation中加入关系式sd#=trajpar+n,此时尺寸sd#受到trajpar+n控制。在sweep开始时值为n,结束时值为n+1。截面的高度尺寸呈线性变化。若截面的高度尺寸受sd#=sin(trajpar*360)+n控制,则呈现sin曲线变化。

2、使用relation结合基准图形(datum graph)及trajpar参数来控制截面参数的变化。我们可利用datum graph来控制截面的变化,也可使用datum graph来控制三维实体或曲面的造型变化。先说明datum graph曲线的使用情况,创建位置为feature>create>datum>graph再给出graph曲线的名称。绘制时给定坐标系,曲线的x轴方向会随着sweep变化,起点代表sweep开始,终点代表sweep结束。(说明:在控制方程中根据需要选取曲线的一段或全部)曲线在某点的y值即是变量值。使用datum graph控制截面的格式如下:

SD#=evalgraph(“graph_name” , x_value)

式中SD#代表欲变化的参数(SD表示草绘尺寸),graph_name为datum graph的名称,x_value代表扫描的“行程”,evalgraph(Evaluate Graph)是Pro/E系统默认的基准控制曲线计算函数,其功能为当变量x_value变化时计算相应的y值,然后指定给SD#。X_value的值可以是实数或表达式,如果是表达式可含有trajpar参数(根据用户需求而定)。

注:datum graph必须在sweep特征之前创建,或使用reorder 将之置于sweep特征之前。

讨论:VSS中的X-Trajectory和附加轨迹的应用

有很多朋友对这些问题吃的不是很透,今天拿出来说一下。欢迎大家跟贴说出自己的见解。

可变截面扫描(VSS)中,X-Trajectory和附加轨迹都可以控制扫描的结果。X-Trajectory中文翻译成是X-矢量或者X-向量,在野火版本中,X-Trajectory和附加轨迹都是可选的。

什么是X-Trajectory呢,它的具体含义是什么?简单地说,它就是在VSS过程中始终控制着扫描截面的X轴方向。

扫描过程中,系统控制X-矢量的每个点都会落在X轴上。

控制截面方向,导致扭曲效果。

取消X-矢量控制。

当然,x-矢量可以参与截面定义,此时的x-矢量具有双重作用。

控制截面垂直方向。

多条扫描轨迹的起始点不在同一平面上时,可以在椎线(spine)上定义一个基准点,然后指定从此点进行草绘扫描截面。

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